功率器件可靠性是器件廠商和應用方除性能參數外關注的，也是特性參數測試無法評估的，失效分析則是分析器件封裝缺陷、提升器件封裝水平和應用可靠性的基礎。廣電計量功率器件失效根因分析*專家技術團隊擁有先進的失效分析設備，專注功率器件失效根因分析，可為客?提供完整的失效根因分析服務。
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更新日期：2025-08-30
價格：
| 品牌 | 廣電計量 | 加工定制 | 是 |
|---|---|---|---|
| 服務區域 | 全國 | 服務周期 | 常規3-5天 |
| 服務類型 | 元器件篩選及失效分析 | 服務資質 | CMA/CNAS認可 |
| 證書報告 | 中英文電子/紙質報告 | 增值服務 | 可加急檢測 |
| 是否可定制 | 是 | 是否有發票 | 是 |
功率器件失效根因分析*專家技術團隊服務范圍
MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半導體器件等分?器件，以及上述元件構成的功率模塊
檢測標準
l GJB548B-2005微電?器件試驗?法和程序
l GJB8897-2017軍?電?元器件失效分析要求與?法
l QJ3065.5-98元器件失效分析管理要求
檢測項目
試驗類型 | 試驗項? |
?損分析 | X 射線透視、聲學掃描顯微鏡、?相顯微鏡 |
電特性/電性定位分析 | 電參數測試、IV&CV 曲線量測、ESD、Photon Emission、OBIRCH、ATE 測試與三溫(常溫/低溫/高溫) 驗證 |
破壞性分析 | 開封、去層、切?、芯?級切片、推拉力測試 |
微觀顯微分析 | DB FIB切?截?分析、FESEM 檢查、EDS微區元素分析、掃描電鏡、透射電鏡 |
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CNAS
功率器件失效根因分析*專家技術團隊服務背景
受益于國產替代趨勢，國內功率器件廠商迎來了發展機會。在成長中廠商迫切希望減少或消除產品失效，并在設計、?藝和產品研發、量產、可靠性測試、封裝等階段進?改進，以迅速占領市場。
我們的優勢
廣電計量擁有專家團隊及先進的失效分析設備，專注功率器件失效根因分析，可為客?提供完整的失效根因分析服務，針對產品的研發設計、來料檢驗、加?組裝、測試篩選、客?端使?等各個環節，為客?提供失效分析咨詢、協助客?開展設計規劃、以及分析測試服務。
地址：廣州市番禺區石碁鎮創運路8號廣電計量科技產業園
電話：400-602-0999
郵箱：limx3@grgtest.com
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